光纤同轴位移传感器欧姆龙日本OMRON

光纤同轴位移传感器欧姆龙日本OMRON

 在玻璃输送高度控制等使用多个传感器的应用中，安装时必须对各传感器进行高精度的角度调整。 
使用同轴共焦点ZW系列时，无需严格的角度调整就可进行高精度测量。高精度控制装置设备时，传感器探头产生的热量一般会对周围的设备元件产生影响，成为发生误差的原因之一。由于ZW系列传感器探头中没有发热源，不会对周围的机器设备造成影响• NVIDIA® GeForce® 200系列或更高规格 
• ATI RadeonHD5000系列或更高规格
硬盘    1.6GB以上空置容量
显示器    XGA 1024× 768、1600万色 GA 1280× 800或更高规格
磁盘装置    DVD-ROM驱动器。
构成部件数与过去的三角测距相比大幅减少EtherCAT是一种经过化非常适用于设备控制的高速开放网络。按照过去的三角测距方式，测量镜面体时，传感器的安装角度不同，可能会发生很大的下降。 为了以更高的精度、更有效率地设计利用感测结果控制设备动作的设备控制应用，经过不断发展。已经开始在欧姆龙的位移传感器ZW内进行EtherCAT通讯升。，是一种不易发生故障的结构，维修保养次数也大幅减少。另外，由于使用LED光，不必采取激光光源那样严格的安全措施
 因此，利用Eth而CAT与伺服驱动器或编码器输入子机相连接，7mm    20mm    30mm    40mm
测量范围   附件    校准内存固定用螺丝(M2)、使用说明书、使用注意事项利用Eth而CAT与伺服驱动器或编码器输入子机相连接，可高速获得位置坐标和ZW的位移量。由于高度信息与XY位置坐标很容易建立联动关系，因此在设备控制用途中，可提高与高度相关的加工精度，在检验用途中，可在异常部位判定，倾向管理等维修保养方面发挥作用可高速获得位置坐标和ZW的位移量 ±0.3mm    ±1mm    ±3mm    ±6mm
静态分辨率 ＊1    0.01μm    0.02μm    0.06μm    0.08μm
线性度 ＊2    ±0.8μm    ±1.2μm    ±4.5μm    ±7.0μm
光点直径 *3    Near    φ20μm    φ45μm    φ70μm    φ90μm
Center    φ18μm    φ40μm    φ60μm    φ80μm
Far    φ20μm    φ45μm    φ70μm    φ90μm
测量周期    500μs～10ms
适用传感器控制器    ZW-C1□□□ /-CE1□□
使用环境照度    物体面照度10,000Lx以下：白炽灯
周围温度范围置有Celeron 540 (1.8GHz)或更高规格CPU的Windows电脑 
使用Core i5 M520 (2.4GHz)、同等或更高规格
主存储器    2GB或以上
使用3D动态跟踪时的 
视频存储器/视频卡    另外，在需要比邻安装多个传感器探头的应用中也可放心使用于位移传感器大多数安装部位会受到工作部等部位所产生振动的影响，因此不容易损坏也是很重要的。ZW系列传感器探头仅由镜头和光纤构成，不含电子部件和基板。视频存储器：512MB以上 
视频卡：以下恩和一种视频卡 
 

光纤同轴位移传感器欧姆龙日本OMRON
通信接口    支持USB2.0的USB端口或Ethernet端口 ＊3
可支持语言    日语、英语、德语、法语、意大利语、西班牙语、简体中文、繁体中文、韩语    工作时：0～+50℃、存放时：-15～+60℃ (但是，不得结冰、结露)
周围湿度范围    工作时/存放时：35～85%RH (但是，不得结露)
保护结构    IP40(IEC60529)
振动(耐久)    10～150Hz(单向振幅0.35mm) X/Y/Z各方向80分钟
冲击(耐久)  了使用一般传感器进行高精度测量，必须采取相应措施，以避免周围设备发生的电磁干扰的影响。但在ZW系列传感器探头中不存在受干扰影响的电子部件，即使安装在动力部附近也可进行稳定测量。而且，连接传感器探头和控制器的光纤，即使布置在动力线等容易产生干扰的电缆附近，也不受其影响  150m/s2 6方向 各3次(上下、左右、前后)
温度特性 ＊4    0.6μm/℃    1.5μm/℃    2.8μm/℃    4.8μm/℃
材质    壳体：压铸铝、光纤被服层：PVC、校准内存：电脑
光纤长度    0.3m、2m (耐弯曲电缆)
光纤zui小弯曲半径    20mm
缘电阻(校准ROM)    外壳与整体端子之间：20ＭΩ(使用250V兆欧表测量时)
耐电压(校准ROM)    外壳与整个端子之间：AC1,000V、50/60Hz、持续1分钟
重量    约105g (壳体、光缆合计)
。由于高度信息与XY位置坐标很容易建立联动关系，因此在设备控制用途中，可提高与高度相关的加工精度，在检验用途中，可在异常部位判定，倾向管理等维修保养方面发挥作用即可降低调整夹具的成本、空间，也可缩短调整时间为